企業(yè)名稱:西峽縣鑫盛化冶材料有限公司
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一、射線檢測(cè)(微焦點(diǎn)XRAY)
射線檢測(cè),一般用X射線或γ射線作為射線源,因此需要產(chǎn)生射線的設(shè)備和其他附屬設(shè)施,當(dāng)工件置于射線場(chǎng)照射時(shí),射線的輻射強(qiáng)度就會(huì)受到鑄件內(nèi)部缺陷的影響。穿過(guò)鑄件射出的輻射強(qiáng)度隨著缺陷大小、性質(zhì)的不同而有局部的變化,形成缺陷的射線圖像,通過(guò)射線膠片予以顯像記錄,或者通過(guò)熒光屏予以實(shí)時(shí)檢測(cè)觀察,或者通過(guò)輻射計(jì)數(shù)儀檢測(cè)。
其中通過(guò)射線膠片顯像記錄的方法是很常用的方法,也就是通常所說(shuō)的射線照相檢測(cè),射線照相所反映出來(lái)的缺陷圖像是直觀的,缺陷形狀、大小、數(shù)量、平面位置和分布范圍都能呈現(xiàn)出來(lái),只是缺陷深度一般不能反映出來(lái),需要采取特殊措施和計(jì)算才能確定。國(guó)際鑄業(yè)網(wǎng)出現(xiàn)應(yīng)用射線計(jì)算機(jī)層析照相方法,由于設(shè)備比較昂貴,使用成本高,無(wú)法普及,但這種新技術(shù)代表了高清晰度射線檢測(cè)技術(shù)未來(lái)發(fā)展的方向。
此外,使用近似點(diǎn)源的微焦點(diǎn)X射線系統(tǒng)實(shí)際上也可消除較大焦點(diǎn)設(shè)備產(chǎn)生的模糊邊緣,使圖像輪廓清晰。使用數(shù)字圖像系統(tǒng)可提高圖像的信噪比,進(jìn)一步提高圖像清晰度。
二、超聲檢測(cè)
超聲檢測(cè)也可用于檢查內(nèi)部缺陷,它是利用具有高頻聲能的聲束在鑄件內(nèi)部的傳播中,碰到內(nèi)部表面或缺陷時(shí)產(chǎn)生反射而發(fā)現(xiàn)缺陷。鎂橄欖砂廠家指出反射聲能的大小是內(nèi)表面或缺陷的指向性和性質(zhì)以及這種反射體的聲阻抗的函數(shù),因此可以應(yīng)用各種缺陷或內(nèi)表面反射的聲能來(lái)檢測(cè)缺陷的存在位置、壁厚或者表面下缺陷的深度。
超聲檢測(cè)作為一種應(yīng)用比較廣泛的無(wú)損檢測(cè)手段,其主要優(yōu)勢(shì)表現(xiàn)在:檢測(cè)靈敏度高,可以探測(cè)細(xì)小的裂紋;具有大的穿透能力,可以探測(cè)厚截面鑄件。其主要局限性在于:對(duì)于輪廓尺寸復(fù)雜和指向性不好的斷開性缺陷的反射波形解釋困難;對(duì)于不合意的內(nèi)部結(jié)構(gòu),例如晶粒大小、組織結(jié)構(gòu)、多孔性、夾雜含量或細(xì)小的分散析出物等,同樣妨礙波形解釋;另外,檢測(cè)時(shí)需要參考標(biāo)準(zhǔn)試塊。